阪和电子工业-hed-c5000r破坏装置-破坏装置

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    2023-4-22

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ld/ledesd试验机型号:hld-501
应用***测量***自动重复获取施加电压的周期数据。激光二极管的输出电平(功率)的观测由光电二极管进行。显示全部施加后的光输出特性(il),可以看到破坏的过程。2波长的激光二极管的测量一次就可以。具有泄露(vf/imim/vf)测量功能,同时可以进行vf/im,hed-c5000r破坏装置,im/vf测量。


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cdm试验机hed-cb5000

是一种模拟半导体器件上插有印刷电路板和模块的静电向接地等放电现象的测试装置。充放电现象采用了与面向半导体器件的cdm试验相同的试验。

是一种模拟半导体器件上插有印刷电路板和模块的静电向接地等放电现象的测试装置。充放电现象采用了与面向半导体器件的cdm试验相同的试验。






是一种模拟半导体器件上插有印刷电路板和模块的静电向接地等放电现象的测试装置。充放电现象采用了与面向半导体器件的cdm试验相同的试验。

是一种模拟半导体器件上插有印刷电路板和模块的静电向接地等放电现象的测试装置。充放电现象采用了与面向半导体器件的cdm试验相同的试验。




hed-w5300d全自动wafer esd测试仪hed-w5300d全自动wafer esd测试仪hed-w5300d全自动wafer esd测试仪

waferesd测试仪hed-w5300d比以往的产品hed-w5100d进化得更厉害,可以自动控制搭载wafer的阶段。

即使是300mm级别的wafer,静电破坏装置,只要将wafer放在舞台上,就可以简单地进行测定。

工作效率肯定会大幅提高。

另外,和以前的产品一样,可以对一般的包装品进行试验。





 



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