阪和电子工业-破坏装置hed-s5000-破坏装置

应用***测量***自动重复获取施加电压的周期数据。激光二极管的输出电平（功率）的观测由光电二极管进行。显示全部施加后的光输出特性（il），可以看到破坏的过程。2波长的激光二极管的测量一次就可以。具有泄露（vf/im，hpe-5000破坏装置，im/vf）测量功能，同时可以进行vf/im，破坏装置hed-s5000，im/vf测量。

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在集成电路中安装的保护电路的动作参数的收集和分析中，tlp测试装置发挥了很大的作用，但是在半导体的微细化进程中，为了提高esd抗药性，需要进一步的保护电路的开发速度。

hed-w5000m-wfc测试仪可以观测实际加入设备的esd波形，因此在保护电路参数的收集、分析、开发速度的缩短上发挥了很大的作用。

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操作机器人，可以简单地对准2针之间的位置。

施加脉冲后，可以通过vf/im测量进行破坏判定。

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