hed-w5300d试验机-试验机-井泽贸易

装备着的测试模式。设置了施加脉冲宽度100ns/200ns的正常测试和将施加幅度缩小到1ns的的测试模式。

对esd耐性的hbm/cdm测试的验证有效。可以通过标准装备的示波器确认设备引脚的入射波和来自设备自旋的反射波。

此数据将被保存，试验机hed-c5000r，并在---中显示。用---可以---入射波/反射波的合计值、坐标回特性、测量的泄露测量值等。

保存的示波器数据允许高自由度运算。例如，对于改变了工序的晶体管的on电压和保护电路中流通的电流值，可以通过重叠---来确认差分。

此外，还可与半自动程序等连接，使tlp测试自动化。

因为可以进行wafer上施加的销和芯片之间的自动移位、自动测量，所以测试效率---提高

cdm试验机hed-cb5000

是一种模拟半导体器件上插有印刷电路板和模块的静电向接地等放电现象的测试装置。充放电现象采用了与面向半导体器件的cdm试验相同的试验。

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阪和电子工业静电破坏装置阪和电子工业静电破坏装置阪和电子工业静电破坏装置阪和电子工业静电破坏装置

全自动静电破坏装置的高功能版登场

可以进行符合的测试（jedec、esda、aec及je  的。短路使电感和电容对数据的影响。

此外，试验机，通过使用单一电路，hed-w5300d试验机，可以---被测试的各调试数据的稳定性。

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