深圳市井泽贸易有限公司提供hed-c5000rcd试验机-阪和电子工业-试验机。
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waferesd测试仪hed-w5300d比以往的产品hed-w5100d进化得更厉害,可以自动控制搭载wafer的阶段。
即使是300mm级别的wafer,只要将wafer放在舞台上,就可以简单地进行测定。
工作效率肯定会大幅提高。
另外,和以前的产品一样,可以对一般的包装品进行试验。






cdm试验机hed-cb5000
是一种模拟半导体器件上插有印刷电路板和模块的静电向接地等放电现象的测试装置。充放电现象采用了与面向半导体器件的cdm试验相同的试验。
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是一种模拟半导体器件上插有印刷电路板和模块的静电向接地等放电现象的测试装置。充放电现象采用了与面向半导体器件的cdm试验相同的试验。
是一种模拟半导体器件上插有印刷电路板和模块的静电向接地等放电现象的测试装置。充放电现象采用了与面向半导体器件的cdm试验相同的试验。
手持式静电可视化---。
配备8个线性传感器,可轻松确认静电的带电状态。
与pc连接后,可使用软件确认静电带电状态,试验机hed-cb5000,确认数值数据,保存测量数据。
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配备8个线性传感器,试验机hld-501,可轻松确认静电的带电状态。
与pc连接后,可使用软件确认静电带电状态,确认数值数据,保存测量数据。

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